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何蓉晖; 李晓维; 宫云战;
中国科学院计算技术研究所;
BIST; 低功耗设计; 内建自测试; 测试产生器; 线性反馈移位寄存器; 集成电路;
机译:使用测试元件组芯片的低功耗Logic-BIST方案的物理功耗评估
机译:用于低功耗和高分辨率DAC测试的新BIST方案
机译:一种用于BIST架构的新型低功耗测试模式发生器
机译:针对BIST方案的低功耗多路单输入更改(MSIC)测试模式生成的VLSI实现
机译:一种在生产测试中实现RF BiST的方法,以代替RF常规测试。
机译:一种用于儿童运动测试的新型跑步机方案:不列颠哥伦比亚省儿童医院方案
机译:用于低功耗和高分辨率DaC测试的新BIsT方案
机译:加速器系统串测试中互连区域的多层绝缘:一种新的设计和安装桥方案的实用工程方法。
机译:使扫描BIST体系结构适合低功耗运行的方法和扫描BIST测试配置
机译:使用通用测试应用方案提高基于扫描的BIST的测试质量的方法和系统
机译:低功耗Scan-BIST测试数据生成器和压实机通过/失败输出
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