首页> 中文期刊> 《固体电子学研究与进展》 >一种低噪声高电源抑制比CMOS低压差线性稳压器

一种低噪声高电源抑制比CMOS低压差线性稳压器

         

摘要

提出了一款基于标准0.18μm CMOS工艺的低噪声高电源抑制比(PSRR)CMOS低压差线性稳压器(LDO),其中包括了带隙基准电路。对LDO和带隙基准电路的噪声和电源抑制进行了建模分析,并得出了电路设计原则。根据设计原则使用两级误差放大器实现了低噪声高电源抑制性能,并且通过合理的频率补偿保证了电路稳定。测试结果显示,LDO输出在-40~120℃温度范围内的温度系数约为48×10^-6/℃;在1~100kHz频率范围内输出噪声电压约为37.3μV;在1kHz和1MHz处的PSRR分别大于60dB和35dB;芯片总面积约为0.27mm^2,无负载电流约为169μA。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号