V_2O_5复合薄膜材料的电子结构研究

摘要

采用自洽场离散变分Xα 方法对纯V2 O5及V2 O5复合薄膜不同状态的O1s及V2p轨道电子结合能和键强度等进行了研究 .结果表明 ,V2 O5结构中存在 4种状态的氧和 3种状态的钒 ,聚合物 (PEO)或聚合物 (PEO)—Li+ 嵌入V2 O5结构主要存在于层间的位置 ,与双键氧产生弱的键合作用 ,导致双键氧与五价钒的含量降低 ,三键氧与三价、四价钒的含量增加 ;纯V2 O5层间嵌入的Li+ 与周围氧的共价键与静电力都非常明显 ,V2 O5层间引入PEO后再嵌入Li+ ,Li+ 与周围氧的共价键与静电力都变的非常微弱 ,说明PEO嵌入V2 O5层间使Li+ 具有很好的注入