基于SPEA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究

摘要

测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标,它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中,进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果,因此各种进化算法被广泛地应用于SoC测试多目标优化的研究中。对SoC测试时间、测试功耗这两个测试目标建立联合优化模型,分析了NSGA-Ⅱ算法与SPEA-Ⅱ算法的特点,并对改进型强度Pareto进化算法(SPEA-Ⅱ)进行研究,进而将SPEA-Ⅱ算法用于上述所建立模型的求解。使用ITC’02标准电路中p93791电路和d695电路对上述方法进行实验验证,实验数据表明上述方法可以求得该联合优化模型的一组最优解;并且针对p93791电路,在与NSGA-Ⅱ算法的实验数据比较中,得到了更好的优化结果。证明了SPEA-Ⅱ算法对SoC测试结构优化方面具有良好的适用性和可行性。