基于NSGA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究

摘要

在系统芯片SoC测试中,测试时间与测试功耗是两个互相影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目标同时优化问题。在无约束条件下,对SoC测试时间与测试功耗建立联合优化模型,并采用多目标进化算法中的改进型非劣分类遗传算法(Non-dominated sorting genetic algorithmⅡ,NSGA-Ⅱ)对模型进行求解。通过应用ITC’02标准电路中的p93791做应用验证,结果表明该方法能够给出模型的均衡解,证明了模型的实用性和有效性。