基于TAM分组策略的SoC测试多目标优化设计

摘要

在片上系统芯片(System-on-Chip,SoC)测试优化技术的研究中,测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素.在基于测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)分组策略的基础上,以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型,运用多目标遗传算法对模型进行求解.以ITC’02标准电路中的p93791电路为实例进行验证,表明此方法能够在测试时间和测试功耗的优化上获得较理想的解,且能提高TAM通道的利用率.