首页> 中文期刊> 《材料研究学报 》 >录像带的表面形貌和微摩擦特性

录像带的表面形貌和微摩擦特性

             

摘要

利用原子力/摩擦力显微镜研究了Sony和国产画王录像带的表面形貌、纳米级载荷下的微摩擦性能结果表明:画王带的粗糙度和粒度均与Sony带相当,但其摩擦系数高于Sony带;摩擦力图与表面形貌、形貌斜率图间有较好的对应关系,微摩擦力随载荷。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号