热性惊厥临床和脑电图特征与日后癫痫发生关系的研究

摘要

目的:探讨热性惊厥(Febrile seizures,FS)患儿脑电图(Electroencephalogram,EEG)特征,揭示EEG阵发性异常与日后发生癫痫的关系。方法:对我院儿科门诊和住院就诊的165例FS患儿于体温恢复正常后7～20 d进行视频脑电图(Video-electroencephalogram,VEEG)监测,EEG结果根据阵发性出现棘慢波、尖波或棘波而定位,探讨EEG阵发性异常放电与FS患儿日后发生癫痫关系。结果:本组165例患儿VEEG异常60例(36.36%),其中45例日后发生癫痫。EEG异常率与患者年龄、癫痫家族史、发热温度、FS类型、发作类型、24 h内发作超过1次及惊厥持续时间有密切关系。8例广泛性棘慢波者日后发生癫痫的有2例(25%),14例Rolandic区放电9例(64.3%)发生癫痫,21例枕区放电的18例(85.7%)发生癫痫,17例额区放电16例(94.1%)发生癫痫。与广泛性放电相比,额区放电的危险相关系数为48.0。结论:额区阵发性异常放电的FS患儿日后发生癫痫的危险性更大。