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随机谱和程序谱及均方根载荷加载的裂纹扩展寿命研究

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摘要

本文研究了随机谱加载、程序谱加载和均方根载荷加载的实验和疲劳裂纹扩展寿命估算.从实验和理论计算结果表明:对飞机谱载荷,程序谱加载,均方根载荷加载的疲劳裂纹扩展寿命皆比随机谱加载的寿命长.如果将程序谱的周期长度(一个程序周期的循环数)减50%,则所得的裂纹扩展寿命趋近于随机谱加载的寿命.

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来源
《上海交通大学学报》 |1990年第5期|178-185|共8页
作者
李康先; 俞仁基; 金子鸿; 梁开佐;
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作者单位

上海交通大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 O346.23;
关键词
疲劳裂纹; 载荷; 裂纹扩展寿命;

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