减小时序电路测试功耗的“无关值”方法

摘要

降低集成电路的功耗是目前广泛研究的一个问题,而降低测试功耗正是其中的一个方面。本文提出了一种基于"无关值"方法,将该方法应用到时序电路测试序列中,可以达到减少测试功耗的目的。给出了寻找"无关值"算法的主要步骤,对关键环节进行了详细论述,给出了实验结论。