数字电路多故障测试生成的神经网络方法研究

摘要

本文深入研究基于Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络的数字电路多故障测试生成方法，该方法利用电路基本逻辑门和Ｈｏｐｆｉｅｌｄ网络的特性，建立多故障测试生成的神经网络模型，通过求解网络能量函数的最小值点获得给定多故障的测试矢量。文中提出了加速测试生成的技术策略，为多故障的测试提供了一种可能的新途径。