用时域反射计(TDR)测量受控阻抗电路板

摘要

高速集成电路(IC)技术的最新发展明显地改善了许多电子产品的性能,降低了成本。从个人计算机到蜂窝式电话都包括有这样的电子产品。同时,这种技术上的急速发展也越来越迫切地要求使用有受控阻抗连线(Controlled—impedance traces)的印刷电路板(PCB)。 速度较高的IC产生的信号有较快的上升时间,当信号的上升时间相对于IC之间的互连线长度来说变得较短时,控制电路板上连线的阻抗也变得很重要了(参见“传输线基本原理”)。许多印刷电路板厂家发现:受控阻抗测试技术比增加用户数量更有竞争优势。