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李光平; 汝琼娜; 李静; 何秀坤;
天津电子部第四十六研究所;
半导体材料; 硅; 测量; 显微镜;
机译:通过FTIR和拉曼显微镜鉴定微塑料:一种新型的硅滤光片基材可打开1300 cm(-1)以下的重要光谱范围,用于FTIR透射测量
机译:金属/电解质界面的多方法分析:扫描力显微镜(SFM),石英微量天平测量(QMB),傅立叶变换红外光谱(FTIR)和多晶硅上的掠入射X射线衍射仪(GIXD)
机译:原子力显微镜平版印刷技术研究P型无结侧栅硅纳米线晶体管的特性
机译:通过互补扫描探针显微镜和扫描电子显微镜技术研究的多晶硅太阳能电池中的漫射连接
机译:使用FTIR显微技术研究芥酸酰胺在线性低密度聚乙烯薄膜中的扩散。
机译:Operando同步加速器红外显微技术研究硅铝磷酸盐STA-7单晶中的二甲醚反应
机译:激光掺杂硅和Gaas的透射电子显微镜和电学特性测量
机译:用于测量半导体的电特性的设备,用于测量半导体的电特性的方法,用于测量用于测量半导体的电特性的设备的控制设备以及计算机程序。
机译:半导体电气特性的测量装置,半导体电气特性的测量方法,半导体电气特性的测量装置的控制装置以及计算机程序
机译:半导体样品超声显微测量方法,半导体样品超声显微测量计算机程序,计算机程序产品和超声显微镜
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