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双带紧束缚模型中噪声对超晶格中电子输运性质的影响(英文)

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摘要

运用直交流电场驱动下的双带紧束缚模型,研究了噪声对超晶格中电子输运性质的影响.数值结果表明,外部噪声能够破坏瞬时电流的周期性并且能够削减长时平均电流的峰值.随着噪声强度的增加,平均电流峰的高度降低,宽度增加;当增大噪声的衰减常数时,平均电流峰会有类似上述变化.

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来源
《计算物理》 |2005年第5期|425-430|共6页
作者
邵建立; 段素青; 赵宪庚;
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作者单位

北京应用物理与计算数学研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类量子力学（波动力学、矩阵力学）;特种结构材料;
关键词
双带模型; 外部噪声; 输运; 超晶格; 电子输运性质; 紧束缚模型; 噪声强度; 超晶格; 平均电流; 电场驱动; 数值结果; 瞬时电流; 衰减常数;

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