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压力溶样-光度法测定高纯锗中硅

         

摘要

金属锗中硅的测定多采用仪器分析法,如质谱法和中子活化分析。一般厂矿不具备这类条件,需要建立用化学手段测定高纯锗中微量硅的方法。对于微量硅的分析,最为棘手的问题是如何降低试验空白。采用常规方法分解锗,酸的消耗量大。

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