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薄层树脂相吸光光度法测定高纯稀土中硅的研究

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本文用717型强碱性阴离子交换树脂转换成钼酸型,然后用此负载树脂吸附样品中的硅酸盐,形成树脂-硅钼黄体系,再用还原剂还原获得树脂-硅相蓝体系,在810nm波长处测定吸光度,实现了高纯稀土中硅的测定.

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来源
《第九届全国稀土分析化学学术报告会》|2001年|116-117|共2页
会议地点武汉
作者
闫永胜; 黄卫红; 陆晓华;
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作者单位

中国稀土学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类可见和紫外分光光度法;硅Si;
关键词
薄层树脂相吸光光度法; 高纯稀土; 硅; 固相萃取; 分光光度法; 硅痕量分析;

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