嵌入式内核的测试——设计和测试的一次座谈会

摘要

在布局、网络列表和可综合的寄存器传送级格式中,内核已经成为芯片设计方法的一个完整部分。芯片是高度集成化的,元件密度很高,设计人员又要抢时间,尽早地把产品推向市场。因此,如何重复利用内核及其它形式的设计便成为很重要的问题。但是,设计人员在内核的设计、复杂芯片的内核互连以及组装内核测试程序方面却面临着许多难题。这次座谈会把电子设计自动化供应商、内核和固件设计公司的代表召集在一起。来讨论这些关键性的问题。