上海社区糖尿病及糖调节受损人群周围神经病变的横断面调查

摘要

目的了解上海社区糖尿病(DM)及糖调节受损(IGR)人群周围神经病变(PN)的患病率及其主要危险因素。方法对1998-2001年上海市华阳及曹杨社区代谢综合征流行病学基线调查建立的IGR及DM队列人群进行PN的筛查,共完成筛查739例,男347例,女392例,年龄21～104岁,平均年龄为(66.4±13.2)岁。原有IGR患者再次接受75g葡萄糖耐量试验,以进一步确定糖代谢状态,PN采用密歇根神经病变筛选法(MNSI)进行诊断。对与PN有关的各影响因素进行逐步Logistic回归分析。结果社区IGR和DM人群的PN患病率分别为24.6%和36.6%,其中在新诊断DM人群中为25.3%,在已诊断DM人群中为39.9%。Logistic回归分析显示,年龄(OR=1.076,95%CI为1.057～1.096,P7.4%患者的PN患病风险约为HbA1c<6.5%患者的1.8倍(OR=1.777,95%CI为1.009～3.130,P=0.044)。结论上海社区高血糖人群中,近1/3患PN,不仅在DM,且在DM前期IGR阶段PN即有较高的患病率。加强血糖控制以及减轻体重可能对PN的防治具有重要意义。