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氧化锌导电陶瓷钇掺杂效应的正电子寿命谱研究

         

摘要

用正电子湮没谱方法 ,研究了掺杂Y2 O3 的ZnO导电陶瓷在不同掺杂量、不同烧结温度和烧结时间对材料结构的影响 .实验结果表明 :Y2 O3 掺杂量增加 ,ZnO导电陶瓷材料完整性变差 ;烧结温度增加 ,ZnO陶瓷产生微空洞为主的缺陷 ;烧结时间增加 ,微空洞缺陷数目明显增加 .

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