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潘中良; 陈翎;
华南师范大学物理系;
数字电路; 测试生成; 神经网络; 并行算法; 多故障;
机译:基于并行因子分析和顺序概率比测试的多源和多故障条件监测
机译:基于结构的组合电路多故障测试生成算法
机译:基于神经网络和数字电路混沌搜索的多故障测试生成算法
机译:基于并行计算的神经网络方法用于微波电路和设备的参数化建模。
机译:基于VO 2的振荡器和忆阻桥电路的差分振荡神经网络的硬件实现
机译:连续时间动态系统的识别:基于神经网络的算法和并行实现。
机译:半导体存储器件实现了能够进行测试时间的并行位测试以及使用该并行存储位测试方法的并行位测试方法
机译:用电子实现的神经网络执行并行运算处理的半导体集成电路器件
机译:用于测试印刷电路板的并行测试仪的定位设备和用于测试印刷电路板的并行测试仪的定位设备
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