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光学元件测试与设备

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TB92 2002010640功率谱密度函数评价方法探讨=Analysis on evaluat-ing method of power spectral density function[刊,中]/徐芳,魏全忠,伍凡(中科院光电技术研究所.四川,成都(610209))∥光学仪器.—2000,22(3).

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来源
《中国光学(中英文)》 |2002年第1期|88-88|共1页
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正文语种 chi
中图分类光学仪器;
关键词
功率谱密度函数; 光学元件; 评价方法探讨; 强激光; 傅里叶变换频谱; 光学系统; 光学仪器; 中科院; 技术研究所; 元件测试;

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