光学元件测试与设备

摘要

TH741.4 2001042868200 nm～1100 nm光响应测试系统的研制=200 nm～1100 nm light response measurement systems[刊,中]/陈武,王勇,王水弟,单一林(清华大学微电子学研究所.北京(100084)),Mikko Matikkala(芬兰探测技术公司.芬兰)//半导体光电.-2000,21(4).-291-292。