x—射线对晶格常数的测定及其在半导体领域中的应用

摘要

本文叙述了 X—射线衍的基本原理。用粉未德拜照相法及衍射仪法测定了Si、GaAs、GaP 及 ZnSe 几种半导体材料的晶格常数。对两种测量方法的精确度进行了比较。文中还介绍了 X—射线在半导体领域中的一些应用。