存储器的 N3/2次型测试图案

摘要

考虑大容量存储器测试的严格性和测试时间的可行性,对16K位以上的存储器用N8/2次型测试图案是非常必要的。本文结合某测试系统,分析了实现N8/2型图案的可行性,给出了三种移动对角线走步的程序流程。其中指计法可得到最少的空操作。也给出了行列走步测试程序流程。由于LSI8测试系统结构的限制,不能方便地实现行列乒乓和行列跳步写恢复图案。给出了列跳步的程序流程,但是有约N8/2次空操作。行乒乓只能通过CPU干预将行、列地址互换的办法实现。并给出了列跳步写恢复的程序流程。由于地址编码器位数的限制,LSI8测试系统不能实现邻位打扰图案。根据LSI8测试系统实现N8/2次型图案的局限性;对存储器图形发生器的要求进行了讨论。