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Converting March Tests for Bit-Oriented Memories into Tests for Word-Oriented Memories

机译：将面向位的存储器的march测试转换为面向字的存储器的测试

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Van De Goor; I. B. S Tlili; S. Hamdioui;
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年度 1998
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1. A systematic method for modifying march tests for bit-oriented memories into tests for word-oriented memories [J] . van de Goor A.J., Tlili I.B.S. IEEE Transactions on Computers . 2003,第10期

机译：一种将面向位的存储器的行进测试修改为面向字的存储器的测试的系统方法
2. A Programmable IEEE 1500-Compliant Wrapper for Testing of Word-Oriented Memory Cores [J] . Nourmandi-Pour Reza Journal of Circuits, Systems, and Computers . 2018,第9期

机译：兼容IEEE 1500的可编程包装器，用于测试面向字的存储核心
3. Single-Error-Correction Code for Simultaneous Testing of Data Bit and Check Bit Arrays for Word-Oriented Memories [J] . Cha S., Yoon H. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on . 2013,第1期

机译：单错误校正代码，用于同时测试面向字的存储器的数据位和校验位阵列
4. Converting March tests for bit-oriented memories into tests for word-oriented memories [C] . Van De Goor, A.J., Tlili, . 1998

机译：将针对位存储的三月测试转换为针对字存储的测试
5. Functional testing of constrained and unconstrained memory using march tests. [D] . Al-Harbi, Sultan M. R. F. 2001

机译：使用进行测试对受约束和不受约束的内存进行功能测试。
6. Test Your Memory (TYM) and Test Your Memory for Mild Cognitive Impairment (TYM-MCI): A Review and Update Including Results of Using the TYM Test in a General Neurology Clinic and Using a Telephone Version of the TYM Test [O] . Jeremy M. Brown, Julie Wiggins, Kate Dawson, 2019

机译：测试您的记忆（TYM）和测试您的轻度认知障碍（TYM-MCI）：审查和更新包括在普通神经病学诊所中使用TYM测试和电话版TYM测试的结果
7. A systematic method for modifying march tests for bit-oriented memories into tests for word-oriented memories [O] . A.J. van de Goor, I.B.S. Tlili 2003

机译：一种改进3月测试的系统方法，以取向位记忆的测试中的回忆测试

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