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刘耀忠;
吉林物理所;
机译:有源区中量子阱数量对半导体激光器光电流特性线性的影响
机译:有源区中的量子阱数量对半导体激光器的瓦特安培特性线性的影响
机译:在各种多孔宽带隙半导体衬底上用铟锡微晶对半导体进行敏化的比较研究
机译:使用扫描电子显微镜对半导体掺杂分布进行定量成像
机译:讨论:利用扫描电子显微镜对半导体进行数字成像的先进系统。
机译:扫描电子显微镜对半导体材料中扩展缺陷的全面表征
机译:用扫描电子显微镜研究半导体p-n结的结区光电特性
机译:辐射对半导体表面损伤的理论和实验研究及其对半导体器件性能的影响最终报告,1964年3月1日 - 1968年8月31日
机译:仍用于对半导体器件中的均匀掺杂区进行微扰
机译:扫描电子显微镜和聚焦离子束装置对半导体制造过程的控制
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