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硅亚微米外延生长技术

         

摘要

<正> 随着硅微波低噪声接收器件向更高频率、低噪声、高可靠性等方面发展,相应对硅外延材料提出了新的要求.它们要求材料的表面浓度低、外延层厚度薄.而且理论和实验上指出,相同的薄层,若外延层表面浓度控制得更低,器件电学参数将能进一步提高.由此可见,亚微米薄层生长技术的研究不仅是一种材料的基础研究,而且在需要薄层材料的器件研制方面有着很大的现实意义.

著录项

  • 来源
    《半导体技术》 |1980年第5期|19-23|共5页
  • 作者单位

    四机部一四二五所五○三组;

    四机部一四二五所五○三组;

    四机部一四二五所五○三组;

    四机部一四二五所五○三组;

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