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用交流方法消除霍尔效应中的副效应问题的探讨

         

摘要

<正>在研究半导体材料中霍尔效应有着广泛的应用.用它来研究半导体材料导电过程,对提供材料的导电类型,载流子浓度、杂质电离能(包括深、浅能级杂质)、禁带宽度、迁移率及杂质补偿度等方面有着重要的作用.本文着重研究霍尔效应中的副效应及其消除方法的探讨,以减少上述测试中所引进不应有的误差等.

著录项

  • 来源
    《半导体技术》 |1987年第1期|49-52|共4页
  • 作者

    刘昶丁; 柳纪虎;

  • 作者单位

    兰州大学;

    兰州大学;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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