使用AES和XPS研究荧光灯的质量

摘要

用AES和XPS方法,分析荧光灯阴极涂层和灯管管壁粉层,并作了对比研究。发现影响荧光灯质量的主要因素是:合理的阴极设计、材料的适当配比和许多工艺技术问题。初步结果表明,应用表面分析技术是有效的手段,可以解决过去无法解决的一些问题。提高荧光灯质量及使用寿命。