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蒋纬; 郑宏宇; 赵祖军;
中国电子科技集团公司第十三研究所;
石家庄050051;
信号完整性; 串扰; 集成电路; 陶瓷封装; 仿真;
机译:串扰对3D集成电路中TSV信号完整性的影响
机译:开关电源噪声对CMOS-IC负载中信号完整性的影响
机译:CMOS-IC负载开关电源噪声信号完整性的影响
机译:串扰对用于IC的高密度陶瓷封装的信号完整性的影响
机译:集成电路中的分布式电路:VLSI中的信号完整性,串扰和延迟。
机译:外壳对陶瓷压力传感器特性的影响-可制造性设计问题
机译:在系统级ESD和EFT /突发测试下CMOS IC的微电子系统信号完整性对瞬态电压抑制器(TVS)对微电子系统信号完整性的影响
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机译:噪声分析揭示了抖动和串扰对信号完整性的影响
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