首页> 中文期刊> 《科学通报 》 >光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱

光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱

         

摘要

EXAFS(Extended X-ray absorption fine structure)能提供反映原子近邻配位的多种有用的结构信息,近年来已广泛应于固体、液体、催化剂、生物、表面等结构问题的研究.EXAFS实验方法除常用的透射法、荧光法之外,还出现了AEY(Auger electron yield)、TEY(Total electronyield)等等新的测试方法.Sham等测试了溶液的光电导,得到了类EXAFS的振荡.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号