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王祖军; 唐本奇; 肖志刚; 黄绍艳; 张勇; 刘敏波; 陈伟; 刘以农;
清华大学工程物理系粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京100084;
西北核技术研究所,西安710024;
电荷耦合器件; 辐射效应; 损伤机理; 暗电流; 电荷转移效率; 加固技术;
机译:在TDI模式下运行的太空CCD检测器中的辐射损伤效应
机译:中子辐照CCD的辐射损伤效应研究
机译:X射线CCD的辐射损伤及空间天文学的修复技术
机译:HST / WFC3:了解和减轻CCD检测器中的辐射损伤效应
机译:亚铁形状记忆合金的超弹性效应研究进展。
机译:非局部加固和响应阻塞对自动加固问题行为的个体和综合效应
机译:评估P沟道CCD204S的低温温度下的性能和辐射损伤效应
机译:ssTR技术在剂量学和辐射损伤测量中的研究进展
机译:扫描策略,以最大限度地减少带电粒子束计量系统的充电效应和辐射损伤
机译:扫描策略,以最大限度地减少带电粒子束测量系统中的充电效应和辐射损伤
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