WJT—1型孔压静力触探仪在软土中的应用

摘要

一、前言地基参数的测试往往是现场取土,保存土样,在室内进行试验,获得土的参数。由于取样时,土难免受扰动,加之土样的保持往往不能保证土样原有状态。另外室内试验常附加某些假设,因此测出的数据与原位实际值有一定差别,而原位测试技术能直接获得土层参数。孔压静力触探技术的开发使OCR、C、K、Su等重要参数的原位测试成为可能,许多学者在这方面做了不懈的努力,取得不少经验或半经验的关系,以便利用孔压静力触探仪获得土的参数。用能源部南京自动化研究所研制的WJT-1型孔压静力触探仪进行了现场试验,获得该场地土层参数。