集成电路综合自动测试系统软硬件接口设计

摘要

为满足日益增长的集成电路测试需求,研制了集成电路综合自动测试系统;该系统对外包含软件平台接口和硬件平台接口;软件平台接口主要针对在被测集成电路规模越来越庞大的背景下,测试程序开发成本高、但软件测试平台之间不能互相兼容的问题,设计了一种基于自动测试模型的集成电路测试程序开发方法,并采用典型集成电路进行了测试验证,可满足测试程序开发的需要;硬件平台接口主要满足高速信号等的传递需求,设计了基于弹性对接技术的硬件平台接口,并进行了结构尺寸、信号传递特性等指标的测试,测试数据表明,可实现测试接口板与测试头之间的稳定连接,满足最高1.6 Gbps、最大2048通道数字信号等的传递需求。