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Alex.S; 汪世祯;
不详;
折射率; 厚度; 干涉测量; 光学测量; 光学材料; 平面平行板;
机译:使用迈克尔逊和法布里-珀罗干涉测量法独立确定晶片的折射率和物理厚度
机译:使用飞秒脉冲激光的色散干涉测量法测量试样的折射率和物理厚度
机译:晶格原子干涉测量法在光学腔中
机译:使用折射率的实部和虚部与低相干干涉测量法分离所述散射和吸收系数
机译:使用白光扫描干涉测量法与反射测量法相结合的透明薄膜层的厚度和表面测量
机译:用于时空分辨折射率测量的光学全息干涉测量法
机译:用于聚合物膜的识别方法包括用于测量薄膜厚度的白光干涉测量法,包括用于包含双极性薄膜的物体的识别方法,检测次数以及干涉测量法的使用。酷刑。
机译:通过不同的干涉测量法(超外差法)测量气体的折射率影响
机译:使用多径干涉测量法测量空气的折射率和光程长度效应的装置和方法
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