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商周原始瓷的EDXRF无损分析

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摘要

采用能量色散X射线荧光(EDXRF) 经验系数法,对江西吴城遗址出土的商代原始瓷残片中主、次量元素含量进行了无损测试,根据仪器提供的强度校正方程, 用已知成分的陶瓷标准参考物求出校正系数,进行基体校正,所得结果与前人的研究工作颇为吻合.该法能满足考古样品分析的要求,特别适用于古陶瓷样品的无损检测.

著录项

来源
《光谱实验室》|2003年第5期|671-675|共5页
作者
朱剑; 梁宝瑬; Mike Li; 毛振伟; 王昌燧; 樊昌生; 周广明;
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作者单位

中国科学技术大学科技史与科技考古系,合肥市金寨路96号,230026;

香港城市大学物理与材料科学系;

香港城市大学物理与材料科学系;

中国科学技术大学科技史与科技考古系,合肥市金寨路96号,230026;

中国科学技术大学科技史与科技考古系,合肥市金寨路96号,230026;

江西省文物考古研究所,南昌市,330000;

江西省文物考古研究所,南昌市,330000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类Ｘ射线荧光分析法;
关键词
能量色散X射线荧光光谱; 原始瓷; 无损检测;
入库时间 2023-07-25 12:15:50

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