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带有凸条平板的MEMS结构压膜阻尼效应分析

     

摘要

针对带有凸条平板的MEMS结构压膜阻尼效应,利用基本Reynolds方程和特定的第一类边界条件,给出一种压膜阻尼系数的解析分析方法.在带有凸条平板的MEMS微开关设计与制作的基础上,利用引入该压膜阻尼系数的Simulink模型仿真分析了微开关的动态响应特性,得到的阈值加速度与其落锤测试结果是一致的,从而验证了所提出的带有凸条平板压膜阻尼效应理论分析的正确性.

著录项

  • 来源
    《传感技术学报》|2010年第5期|665-669|共5页
  • 作者单位

    上海交通大学微纳科学技术研究院,薄膜与微细技术教育部重点实验室,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海,200240;

    上海交通大学微纳科学技术研究院,薄膜与微细技术教育部重点实验室,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海,200240;

    哥伦比亚大学机械工程系,纽约,10027-6902;

    上海交通大学微纳科学技术研究院,薄膜与微细技术教育部重点实验室,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海,200240;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 小型化、微型化;
  • 关键词

    微机电系统; 压膜阻尼; 带凸条平板; 解析解;

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