基于EPID采用参数化梯度法测定光子束射野边界

摘要

目的:探究参数化梯度方法(PGM)测量电子射野影像系统(EPID)光子束射野大小的可行性.方法:PGM通过一个修改的双曲正切函数拟合Profile半影区.瓦里安EDGE机载aS1200采集6MV和10MVFF及FFF射束EPID数据,TrueBeam机载aS1000采集6MVFF射束EPID数据.γ,分析1mm/1％标准量化PGM拟合Profile半影区与EPID测量半影区一致性.比较半高宽方法与PGM测量的FF射束射野大小,比较最大斜率方法与PGM测量的FFF射束射野大小;比较PGM在不同射束能量、不同EPID探测器类型和引入铅门位置误差后测量射野边界的稳定性和扩展性.结果:半影区PGM拟合与EPID实测数据Pearson相关系数大于0.999,γ值小于0.2.FF射束,半高宽方法测定射野均大于PGM,且随着射野增大而增大,Profile本影去除后,两种方法测量差值显著减小;FFF射束,最大斜率方法与PGM测定射野大小差值在0.1mm以内.PGM能够稳定测量不同能量、不同模态、不同EPID探测器类型射野边界,能够准确识别铅门1mm位置变动.结论:PGM可作为一种鲁棒通用的方法适用于EPID光子束射野质量保障.