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In0.5(Ga1-xAlx)0.5P合金的掺杂生长特性

     

摘要

利用LP-MOCVD分别生长Zn和S掺杂的In0.5(Ga1-xAlx)0 5P外延层,研究生长温度、掺杂源流量、V/Ⅲ比、Al组分以及衬底晶向偏离等生长条件对外延层掺杂浓度的影响.实验结果表明:降低生长温度和Al含量、增加DEZn流量、选择由(100)向(111)A偏6~15的衬底都有利于增加IRGaAlP合金中Zn的掺杂浓度;提高生长温度和增加SIH4流量、减小Al含量和V/Ⅲ比,都有助于增加Si掺杂浓度,而衬底晶向对Si掺杂浓度无影响.

著录项

  • 来源
    《发光学报》|2002年第5期|469-472|共4页
  • 作者单位

    北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,宽禁带半导体研究中心,北京,100871;

    长春理工大学,吉林长春130022;

    北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,宽禁带半导体研究中心,北京,100871;

    北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,宽禁带半导体研究中心,北京,100871;

    北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,宽禁带半导体研究中心,北京,100871;

    北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,宽禁带半导体研究中心,北京,100871;

    北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,宽禁带半导体研究中心,北京,100871;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 掺杂;
  • 关键词

    InGaAlP; LP-MOCVD; 掺杂剂; 掺杂特性;

  • 入库时间 2023-07-25 14:48:54

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