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纳米厚度氮化硼薄膜的场发射特性

     

摘要

利用射频磁控溅射方法,在n型(100)Si基底上沉积了不同厚度(54~135nm)的纳米氮化硼(BN)薄膜.红外光谱分析表明,BN薄膜结构为六角BN(h-BN)相(1 380cm-1和780cm-1).在超高真空系统中测量了不同膜厚BN薄膜的场发射特性,发现BN薄膜的场发射特性与膜厚关系很大,阈值电场随着厚度的增加而增大.由于BN薄膜和Si基底界面间存在功函数差,使得Si基底中电子转移到BN薄膜的导带,在外电场作用下隧穿BN表面势垒,发射到真空.

著录项

  • 来源
    《液晶与显示》|2003年第1期|10-13|共4页
  • 作者单位

    吉林大学,超硬材料国家重点实验室,吉林,长春,130023;

    延边大学,理工学院,吉林,延吉,133002;

    吉林大学,超硬材料国家重点实验室,吉林,长春,130023;

    吉林大学,超分子结构和谱学开放实验室,吉林,长春,130023;

    吉林大学,超硬材料国家重点实验室,吉林,长春,130023;

    吉林大学,超硬材料国家重点实验室,吉林,长春,130023;

    吉林大学,超硬材料国家重点实验室,吉林,长春,130023;

    吉林大学,超硬材料国家重点实验室,吉林,长春,130023;

    吉林大学,超分子结构和谱学开放实验室,吉林,长春,130023;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN873.95;
  • 关键词

    纳米氮化硼薄膜; 场发射; 厚度; 功函数;

  • 入库时间 2022-08-18 08:58:53

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