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袁剑峰; 闫东航; 许武;
中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,激发态物理重点实验室,吉林,长春,130033;
中国科学院,长春应用化学研究所,高分子物理与化学国家重点实验室,吉林,长春,130022;
有机薄膜晶体管; 有源层; 厚度;
机译:有源层厚度对a-LZTO薄膜晶体管器件性能的影响
机译:高分子电解质的纳米结构WO3中的电致变色:有源层厚度和器件性能的形态
机译:有源层厚度对双有源层非晶InGaZnO薄膜晶体管性能和稳定性的影响
机译:有源层厚度对金属诱导的结晶多晶硅薄膜晶体管器件性能和热载流子不稳定性的影响
机译:考虑阿拉斯加北部的长期气候影响,多年冻土有源层厚度和地面沉降的评估
机译:了解温度和漏极电流应力在具有不同有源层厚度的InSnZnO TFT中的作用
机译:有源层厚度对以60 PCBM和70 PCBM为电子受体的聚合物太阳能电池器件性能的影响
机译:栅氧化层厚度对mOs集成电路速度的影响
机译:异质结结构例如用于光伏应用的光伏电池具有过渡层,该过渡层掺杂在有源层上的材料中,其中掺杂元素的浓度逐渐变化或随过渡层厚度的变化而变化
机译:测量和控制光学有源层厚度的方法和光度装置。
机译:干涉仪,即光谱干涉仪,用于层厚度测量,在光路中布置了光缆,以完全控制波长和/或偏振相关的对厚度测量结果的影响
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