线粒体ATP敏感性钾通道在头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤中的作用

摘要

目的评价线粒体ATP敏感性钾通道在头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤中的作用。方法健康雄性SD大鼠32只,体重200～250 g,随机分为4组（n=8）:假手术组（S组）、全脑缺血再灌注组（I/R组）、头部浅低温组（H组）和5-羟基葵酸钠组（5-HD组）。采用三血管阻断法建立大鼠全脑缺血再灌注模型。S组仅分离血管,不阻断;I/R组制备大鼠全脑缺血再灌注模型;H组于再灌注前即刻实施头部浅低温（使鼓膜温度在1 min内降至32～34℃）,维持3 h后复温;5-HD组于缺血前30 min腹腔注射5-羟基葵酸钠10 mg/kg,于再灌注前即刻实施头部浅低温。于再灌注12 h时评估大鼠神经行为学（跨格次数和转体时间）,采用ELISA法测定血清神经元特异性烯醇化酶（NSE）的浓度,电镜下观察额叶皮质神经元的超微结构。结果与S组比较,I/R组、H组和5-HD组跨格次数减少,转体时间延长,I/R组和5-HD组血清NSE浓度升高（P＜0.05）,H组血清NSE浓度差异无统计学意义（P＞0.05）;与I/R组比较,H组跨格次数增多,转体时间缩短,血清NSE浓度降低,5-HD组转体时间缩短（P＜0.05）,其余指标差异无统计学意义（P＞0.05）;与H组比较,5-HD组跨格次数减少,转体时间延长,血清NSE浓度升高（P＜0.05）。H组额叶皮质神经元病理学改变较I/R组和5-HD组减轻,5-HD组与I/R组损伤程度相似。结论头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤可能与开放线粒体ATP敏感性钾通道有关。