热性惊厥附加症儿童的脑灰质形态学分析

摘要

目的:采用基于体素形态学测量(VBM)及基于表面形态学测量(SBM)方法,探讨热性惊厥附加症(FS+)儿童的脑灰质结构变化。方法:选取20例FS+患者及与之性别、年龄及受教育程度匹配的19名正常对照者进行磁共振3D T1结构像序列扫描,应用SPM12中VBM及CAT12工具箱进行全脑灰质体积、皮质厚度、脑沟深度、沟回指数及分形维度分析,采用独立样本t检验获得差异具有统计学意义的脑区。结果:与对照组相比,FS+组右侧额下回、右侧丘脑及左侧颞上回体积减小(P<0.05)。FS+组双侧颞上回、缘上回、左侧中央旁小叶、左侧额下回、左侧楔前叶、左侧顶下回、左侧颞下回、右侧顶上回及右侧梭状回皮质较对照组增厚(P<0.05)。脑沟深度、沟回指数及分形维度在FS+组与对照组间无统计学差异。结论:FS+患者存在多个脑区灰质体积减小及皮质厚度增加,其海马体积较正常组无明显变化。