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液晶高分子新型材料:Ⅲ液晶性表征及结构与性能关系

     

摘要

1 液晶性表征依据LCP所具的光学各向异性、分子链排列的一维或二维有序性及多重热转变性,可以用有热台的偏光显微镜 (PM) X射线衍射 (XRD) 和差示扫描量热 (DSC)来表征合成产物的液晶性。 1.1 PM法在正交偏光镜下,用热台将处于清亮点71以上的各向同性样品熔体,降温到Ti以下,使样品进入液晶成核过程,此时,可观察到不同液晶相具有各异的、因双折射引起的织态结构,向列型为丝纹状,近晶型有焦锥或扇形纹理,胆甾型有平行走向的消光条纹。 1.2 XRD法这是鉴别液晶及其类型和结构参数的最有效的方法。

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