首页> 中文期刊> 《中国设备工程》 >电子元器件失效分析及方法研究

电子元器件失效分析及方法研究

         

摘要

cqvip:电子元器件的质量以及运行效果对于电子设备的运行安全可靠性影响较大,针对电子元器件进行科学的失效分析能够有效提升电子元器件运行的可靠性,为电子系统运行提供保障。本文就电子元器件失效分析的主要原则和程序进行了分析,就其主要技术方法以及未来发展进行了探讨。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号