首页> 中文期刊> 《中国集成电路》 >IDDQ测试原理及案例

IDDQ测试原理及案例

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

团队文献服务 >>

页面导航

摘要
著录项
引文网络
相似文献
相关主题

摘要

概论IDDQ测试的演进规律,详解一个芯片IDDQ实测案例,包括测试平台、软件框图和数据分析.

著录项

来源
《中国集成电路》 |2006年第9期|74-75,30|共3页
作者
鲍信茹; 汪志伟; 李文石;
展开▼
作者单位

苏州大学电子信息学院微电子学系;

苏州大学电子信息学院微电子学系;

苏州大学电子信息学院微电子学系;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
IDDQ; 原理; 案例;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. IDDQ测试原理及测试优势 [J] . 张新林 . 零陵学院学报 . 1999,第003期
2. IC测试原理-芯片测试原理 [J] . 许伟达 . 半导体技术 . 2006,第7期
3. 基于“IDDQ+IDDT”混合模式的集成电路智能检测技术 [J] . 李映晟 . 电子技术与软件工程 . 2021,第020期
4. 基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真 [J] . 许爱强 ,唐小峰 ,牛双诚 . 北京工业大学学报 . 2016,第001期
5. CMOS电路IDDQ测试电路设计 [J] . 江耀曦 ,邵建龙 ,杨晓明 . 现代电子技术 . 2011,第016期
6. IDDQ测试,挑战与发展 [C] . 钟征宇 . 2003第十届全国可靠性物理学术讨论会 . 2003
7. 深亚微米工艺下芯片的IDDQ测试技术的研究及应用 [A] . 曹福全 . 2008

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号