基于“IDDQ+IDDT”混合模式的集成电路智能检测技术

摘要

本文针对传统的集成电路检测技术不能够有效覆盖现阶段电路检测的实际使用需求和精准要求等问题,提出了一种基于“IDDQ+IDDT”混合模式的新型集成电路智能检测技术,该技术通过重构检测机制、设计检测信号、选取检测向量和优化电路模式等方法,并进一步利用模拟的信号波形校正与Haar小波变换算法提高了检测过程中的成功率,有效保证检测机制的高效运行,仿真实验验证了本文方法的有效性,具有一定的借鉴意义。