首页> 中文期刊> 《湖南科技学院学报》 >IDDQ测试原理及测试优势

IDDQ测试原理及测试优势

         

摘要

本文介绍了 IDDQ测试的基本原理 ,探讨了 IDDQ测试方法在对静态 CMOS电路测试时的重要特征 ,展示了 IDDQ测试的优越性

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号