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基于FPGA的DFT验证平台的实现

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摘要

本文将根据实际芯片量产时机台测试环境来搭建基于FPGA的DFT验证平台具体解决方案,来解决芯片量产ATE设备进行测试所带来的一些弊端,帮助测试人员在实验室进行相应的DFT测试.

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来源
《中国集成电路》 |2014年第3期|22-24,43|共4页
作者
倪乐斌; 于忠臣;
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作者单位

北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室,北京,100124;

北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室,北京,100124;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
FPGA; DFT; Scan-Chain; 量产测试;

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