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基于FPGA的集成运放参数测试仪

         

摘要

在集成运放的近似分析中,常把运放的参数理想化,即认为输入失调电压、输入失调电流为零,而差模开环增益、共模抑制比为无穷大.在实际的设计电路过程中,对模拟信号的处理如放大、运算等,往往提出精度要求,需要选择参数合理的运放.理解运放主要性能指标的物理意义,是正确选择运放的前提.从性能价格比方面考虑,一般尽量选择通用型运放,因此研究通用运放的性能参数,对集成运放应用电路的设计有着重要的指导意义.

著录项

  • 来源
    《信息与电脑》 |2017年第19期|103-106|共4页
  • 作者单位

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

    扬州大学 信息工程学院,江苏 扬州 225127;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN722.77;
  • 关键词

    FPGA; 集成运放; 单片机;

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